目前常用的THB試驗條件為85℃,85% RH,1000 hours (可參考JESD22-A101)，確實因試驗時間冗長將影響新產品開發周期及試驗結果取得的時效性。因此HAST (Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test) 藉由加速應力條件 (130℃/110℃,85% RH,參考JESD22-A110)會使測試時間顯著減少，更加容易激發出芯片器件可能在嚴酷之高溫高濕環境中出現失效缺陷。但是需要注意的是，在選用HAST為產品試驗條件之前，首先需要確認該產品材料特性能否經受高溫環境（130°C/110°C）和高壓應力（230/122KPa）作用，以避免材料特性所限導致的非關聯性故障；還須考慮HAST測試設備所能承受最大功耗限制。
