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半導體檢測量測設(shè)備分類表

發(fā)布時間:2024-07-15作者來源:薩科微瀏覽:1847

感謝廣大熱心讀者和行業(yè)朋友的反饋提醒,我糾正了不少錯誤,也補充了更多的數(shù)據(jù)

不過在和大家交流的過程當中,我也發(fā)現(xiàn)之前的設(shè)備分類方式還存在著不少問題:缺少部分重要設(shè)備種類、一些分類方法有錯誤、某些地方分得不夠細致 ...

于是,在和一些業(yè)內(nèi)專家溝通并獲得大量實際幫助后,我更新了一版檢測量測設(shè)備的分類表,整理后發(fā)布出來供大家參考和確認

如果大家發(fā)現(xiàn)問題,請務(wù)必和我溝通,或者在公眾號留言也行

我在進一步收集反饋完善這個分類版本后,會以這個分類方式重新梳理供應(yīng)商信息

等數(shù)據(jù)完善以后,我會再發(fā)布數(shù)據(jù)。謝謝大家支持


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